• head_banner_01

میکروسکوپ نیروی اتمی afm

میکروسکوپ نیروی اتمی afm

توضیح کوتاه:

نام تجاری: NANBEI

مدل: AFM

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، یک ابزار تحلیلی است که می تواند برای مطالعه ساختار سطحی مواد جامد از جمله عایق ها استفاده شود.ساختار سطح و خواص یک ماده را با تشخیص برهمکنش بین اتمی بسیار ضعیف بین سطح نمونه مورد آزمایش و یک عنصر حساس به نیروی ریز مطالعه می کند.


جزئیات محصول

برچسب های محصول

معرفی مختصر میکروسکوپ نیروی اتمی

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، یک ابزار تحلیلی است که می تواند برای مطالعه ساختار سطحی مواد جامد از جمله عایق ها استفاده شود.ساختار سطح و خواص یک ماده را با تشخیص برهمکنش بین اتمی بسیار ضعیف بین سطح نمونه مورد آزمایش و یک عنصر حساس به نیروی ریز مطالعه می کند.یک جفت نیروی ضعیف بسیار حساس انتهای ریز کنسول ثابت است، انتهای دیگر نوک کوچک به نمونه نزدیک است، سپس با آن تعامل خواهد کرد، این نیرو باعث تغییر شکل میکرو کنسول یا تغییر حالت حرکت می شود.هنگام اسکن نمونه، از سنسور می توان برای تشخیص این تغییرات استفاده کرد، می توانیم توزیع اطلاعات نیرو را به دست آوریم تا مورفولوژی سطح اطلاعات وضوح نانو و اطلاعات زبری سطح را به دست آوریم.

ویژگی های میکروسکوپ نیروی اتمی

★ پروب اسکن یکپارچه و گوزن نمونه توانایی ضد تداخل را افزایش دادند.
★ لیزر دقیق و دستگاه تعیین موقعیت پروب، تغییر پروب و تنظیم نقطه را ساده و راحت می کند.
★ با استفاده از پروب نمونه، سوزن می تواند عمود بر اسکن نمونه باشد.
★ کنترل درایو موتور پالس خودکار پروب نمونه عمودی نزدیک می شود، برای رسیدن به موقعیت دقیق منطقه اسکن.
★ منطقه اسکن نمونه مورد علاقه می تواند آزادانه با استفاده از طراحی دستگاه تلفن همراه نمونه با دقت بالا حرکت کند.
★ سیستم مشاهده CCD با موقعیت یابی نوری به مشاهده و موقعیت یابی در زمان واقعی منطقه اسکن نمونه پروب می رسد.
★ طراحی سیستم کنترل الکترونیکی مدولارسازی، تعمیر و نگهداری و بهبود مستمر مدار را تسهیل می کند.
★ ادغام مدار کنترل حالت اسکن چندگانه، با سیستم نرم افزاری همکاری می کند.
★ تعلیق فنری که ساده و عملی توانایی ضد تداخل افزایش یافته است.

پارامتر محصول

حالت کار FM-Tapping، تماس اختیاری، اصطکاک، فاز، مغناطیسی یا الکترواستاتیک
اندازه Φ≤90mm,H≤20mm
محدوده اسکن 20 میلی‌متر XYdirection,2 میلی متر در جهت Z.
وضوح اسکن 0.2 نانومتر در جهت XY,0.05 نانومتر در جهت Z
محدوده حرکت نمونه ± 6.5 میلی متر
عرض پالس موتور نزدیک می شود 10±2 میلی‌ثانیه
نقطه نمونه برداری تصویر 256×256,512×512
بزرگنمایی نوری 4X
وضوح نوری 2.5 میلی متر
نرخ اسکن 0.6 هرتز تا 4.34 هرتز
زاویه اسکن 0 تا 360 درجه
کنترل اسکن D/A 18 بیتی در جهت XY,D/A 16 بیتی در جهت Z
نمونه گیری داده ها 14-bitA/D,نمونه برداری همزمان چند کاناله دوبل 16 بیتی A/D
بازخورد بازخورد دیجیتال DSP
نرخ نمونه گیری بازخورد 64.0 کیلوهرتز
رابط کامپیوتر USB2.0
محیط عملیاتی Windows98/2000/XP/7/8

  • قبلی:
  • بعد:

  • پیام خود را اینجا بنویسید و برای ما ارسال کنید

    دسته بندی محصولات